JEM 2100F 高分辨透射電子顯微鏡

JEM 2100F 是一款先進的透射電子顯微鏡，在同類顯微鏡中，它的分析功能最強、獲得的圖像質量最高🙆🏽‍♀️。束斑尺寸在0.5nm以下，可以快速地獲得超高分辨率圖像，使原子尺度的結構分析更簡便。

主要功能▪️🛜：

基礎研究；固體物質微結構研究；高分辨顯微術🥫；晶體結構及晶體缺陷分析🏊🏽‍♀️；物質微區元素成分測定🌶；先進材料製備方法、性能與結構關系的研究。

技術參數：

1. 點分辨率：0.19nm 🚶‍➡️；

2. 線分辨率：0.14nm ；

3. 加速電壓：80, 100, 120, 160, 200kV 👊🏻；

4. 傾斜角🐠：±25°🙌🏽；

5. TEM分辨率☎：0.20nm✒️。