型號👨🍳： Dimension ICON型
特點及性能： SPM利用具有納米量級曲率半徑的微探針在樣品表面往復掃描從而獲得樣品表面的細微結構，擁有可同時獲得樣品表面納米量級形貌及特定物性特征的能力🏺。 SPM主要應用於納米材料科學研究以及其它需對樣品表面的微納米結構進行表征的相關研究領域🧑🏻🎨。成像範圍： 70μm×70μm×5μm；
分辨率2️⃣： 橫向0.1nm， 縱向0.01nm；
樣品尺寸🪡： 直徑<=
成像模式🛜： ScanAsyst模式、Contact模式、Tapping模式、Lift模式。